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薄膜测厚仪的测量原理和技术特征

发布时间:2020-08-12   点击次数:41次
   薄膜测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
 
  测量原理
  使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。
 
  薄膜测厚仪的技术特征:
  严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
 
  测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
 
  支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
 
  实时显示测量结果的值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
 
  配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
 
  系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
 
  系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
 
  标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输。
 
  支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。
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