薄膜测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
测量原理
使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
薄膜测厚仪的技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。
实时显示测量结果的值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。
标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输。
支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。
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