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薄膜测厚仪的技术特征和注意事项说明

更新时间:2022-08-28   点击次数:278次
   薄膜测厚仪是检测其各项性能指标的基础。包装厚度不均,会影响到其阻隔性、拉伸强度等性能;此外,对材料厚度实施高精度控制也是确保产品质量与控制生产成本的重要手段。
 
  薄膜测厚仪的技术特征:
  1、配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果;
 
  2、打印数值及每次测量结果,方便用户分析数据;
 
  3、仪器自动保存达100组测试结果,随时查看并打印;
 
  4、标准量块标定,方便用户快速标定设备;
 
  5、配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,误差小;
 
  6、提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户;
 
  7、配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输。
 
  薄膜测厚仪使用中的注意事项:
  测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的准确性;每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性;喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准;不要用力拽或折测头线,以免线断;严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头;测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面;每次测量应有大于3秒的时间间隔。