薄膜测厚仪的技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。
系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
实时显示测量结果的大小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。
标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。
薄膜测厚仪的操作方法：
●将厚度测量仪放在干净的工作台上，连接220V交流电源，并连接已安装分析软件的电脑。
●打开厚度测量仪的电源开关并热机至少10分钟，以保证光源在测量时达到较佳状态并保持稳定。
●打开厚度测量仪的分析软件并进行基准扫描，此时工作台上不要放臵任何物品，点击基准并取得背景。
●取任意一个标准片放臵在工作台上，并在配方中选择标准片的相应名称，此时软件上选择的CTM探头名称必须和使用的探头一致。
●在分析软件的采集菜单中：选择连续采集光谱，然后粗调探头与标准片的距离直至分析软件上出现1-2条光滑的曲线，把探头固定后，利用细调旋钮调节探头与标准片的距离，直至分析软件上出现2条光滑的曲线，然后再次点击连续采集光谱，直至采集光谱结束。
●点击编辑配方，在材料库中选择和待测物品相同或相近的材料，并输入和待测物品接近的厚度，并输入厚度范围，确定后点击测量即可以得出待测物品的厚度。
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