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薄膜测厚仪的技术特征和操作方法详细介绍

发布时间:2021-07-13   点击次数:62次
   薄膜测厚仪的技术特征:
  严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
 
  测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
 
  系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
 
  实时显示测量结果的大小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
 
  配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
 
  系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
 
  系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
 
  标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
 
  薄膜测厚仪的操作方法:
  ●将厚度测量仪放在干净的工作台上,连接220V交流电源,并连接已安装分析软件的电脑。
 
  ●打开厚度测量仪的电源开关并热机至少10分钟,以保证光源在测量时达到较佳状态并保持稳定。
 
  ●打开厚度测量仪的分析软件并进行基准扫描,此时工作台上不要放臵任何物品,点击基准并取得背景。
 
  ●取任意一个标准片放臵在工作台上,并在配方中选择标准片的相应名称,此时软件上选择的CTM探头名称必须和使用的探头一致。
 
  ●在分析软件的采集菜单中:选择连续采集光谱,然后粗调探头与标准片的距离直至分析软件上出现1-2条光滑的曲线,把探头固定后,利用细调旋钮调节探头与标准片的距离,直至分析软件上出现2条光滑的曲线,然后再次点击连续采集光谱,直至采集光谱结束。
 
  ●点击编辑配方,在材料库中选择和待测物品相同或相近的材料,并输入和待测物品接近的厚度,并输入厚度范围,确定后点击测量即可以得出待测物品的厚度。
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