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高精度0.1微米自动薄膜测厚仪

简要描述:

THK-01高精度0.1微米自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。

  • 更新时间:2020-11-16
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:众测/pubtester
  • 产品厂地:济南市
  • 访问次数:127
  • 品牌众测/pubtester测量范围0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)
    重量30kg测量精度0.1μm
    产地国产加工定制

    在工业生产和生活应用中,薄膜厚度(例如微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等)是一项非常重要的参数,因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作,除此之外,薄膜材料的力学性能,如透光性能、磁性能、热导率、表面结构等都与厚度密不可分。

     

    众测机电研发生产的高精度0.1微米自动薄膜测厚仪THK-01适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高,误差小,操作简单方便,同时配备微型打印机,方便查看和打印数据结果。

     

    薄膜测厚仪

    自动薄膜测厚仪

     

    高精度0.1微米自动薄膜测厚仪THK-01主要参数:
    通用名称:测厚仪
    测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配) 
    分辨率:0.1μm
    测试速度:1~25次/min
    测量头平行度:±2μm(机械调整,量块校验)
    重复性:0.3μm
    测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);
    接触面积:50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);
                    薄膜、纸张任选一种,非标可定制
    电源:AC220V50Hz/ AC120V60Hz
    外形尺寸:300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
    约净重:30Kg

     

    参照标准:GB/T6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定_机械测量法、GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定、GB/T6547 瓦楞纸板厚度的测定法、ASTMD1777 测量纺织材料的厚度的标准试验方法、TAPPIT411 美国造纸工业标准TAPPI Standard、ISO 4593 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度、ISO534 纸和纸板厚度、紧度和松厚度测试、ISO3034 瓦楞纸板--单张厚度的测定、 DIN53105 纸和纸板检验.平均单页厚度、未加工厚度和特殊体积规定、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817  

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